Happy ! Rasterelektronenmikroskopie einer Materialprobe,

Happy ! Rasterelektronenmikroskopie einer Materialprobe, die aus einem Feld mit Silizium-Säulen auf einem Silizium-Substrat besteht. Der Durchmesser der Säulen ist ungefähr 100 nm, ihre Höhe 200 nm. Das ♥️ ist ein Staubpartikel! 😁(js) Quelle: IPPValentinstag

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